面對(duì)中國(guó)制造2025戰(zhàn)略，集團(tuán)開(kāi)發(fā)出了擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的具有數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)追溯、數(shù)據(jù)監(jiān)控、質(zhì)量監(jiān)控等多種功能的DMDS質(zhì)量管理系統(tǒng)，為企業(yè)自動(dòng)化檢測(cè)轉(zhuǎn)型提供成熟的技術(shù)方案。
瑞士丹青TR-SCAN微觀形貌光學(xué)粗糙度測(cè)量?jī)x，廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查。與傳統(tǒng)非接觸測(cè)量技術(shù)相比，測(cè)量速度快，對(duì)振動(dòng)不敏感，實(shí)現(xiàn)三維形貌納米級(jí)測(cè)量。模塊化的設(shè)計(jì)理念，可配置色譜共焦傳感器，白光干涉?zhèn)鞲衅?。傳感器直接換，方便快捷，滿足不同的應(yīng)用領(lǐng)域。即可用于計(jì)量單位和材料科學(xué)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，也廣泛應(yīng)用在工業(yè)制造領(lǐng)域：汽車(chē)、、、表面涂層、產(chǎn)品、微型電機(jī)系統(tǒng)、半導(dǎo)體等行業(yè)。
主要特點(diǎn)：
非接觸式測(cè)量原理，無(wú)損化檢測(cè)粗糙度，微觀形貌
模塊化的設(shè)計(jì)概念，直接換傳感器，不需要調(diào)整
可非標(biāo)定制滿足不同客戶測(cè)量要求
滿足粗糙度DIN、ISO、ASME等
采用多種技術(shù)的模塊化儀器
不同應(yīng)用采用不同的測(cè)頭
敏感表面的測(cè)量，高反射和透明表面的測(cè)量
2D或3D信息顯示，高精度測(cè)量，速度快
簡(jiǎn)單和功能強(qiáng)大的表面分析軟件
輪廓提取和分析
多用型儀器
采用的3D形貌分析軟件，功能強(qiáng)大，既可實(shí)
 現(xiàn)2D輪廓測(cè)量，也可進(jìn)行3D形貌分析
可進(jìn)行編程批量檢測(cè)并自動(dòng)生成分析報(bào)告

WLI白光干涉?zhèn)鞲衅魈攸c(diǎn)：
直接3D測(cè)量
快速
高精度，分辨率0.1nm
2.5x~100x干涉鏡頭
50x以上干涉鏡頭用于高反射表面
集成拼接功能
測(cè)量范圍大400µm
適用于所有材料
高速壓電陶瓷Z軸
2百萬(wàn)或5百萬(wàn)像素?cái)z像頭(根據(jù)測(cè)量需求配置)
Trimos提供基于WLI技術(shù)的解決方案并通過(guò)
 Trimos Nanoware測(cè)量軟件對(duì)整個(gè)測(cè)量過(guò)程進(jìn)行
控制和分析。
◆ Trimos在本領(lǐng)域進(jìn)行了廣泛的研究并積累了豐
 富的經(jīng)驗(yàn)，因而能提供、穩(wěn)定、的分析
 算法。

瑞士丹青VC/LC輪廓粗糙度測(cè)量?jī)x，可覆蓋常規(guī)加工零件的表面測(cè)量要求，同時(shí)我們也可根據(jù)客戶特殊需求制造雙軸超過(guò)1000mm的測(cè)量系統(tǒng)。友好的測(cè)量軟件界面，智能化的參數(shù)評(píng)定，完整的輪廓粗糙度參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)及參數(shù)選擇，用戶可自定義測(cè)量報(bào)告，可保存成Excel/JPG/PDF/HTML/RTF/MHT多種文件格式。
雙向測(cè)量功能：
雙向測(cè)量，輪廓、粗糙度、圓柱度一次顯示
OPTACOM粗糙度和圓柱度測(cè)量軟件可以自動(dòng)評(píng)價(jià)零件輪廓，用戶只需選擇好測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)量參數(shù)自動(dòng)顯示出來(lái)，無(wú)需用戶進(jìn)行其他設(shè)置。所有測(cè)量參數(shù)都符合DIN-ISO標(biāo)準(zhǔn)，使用此功能，用戶可以節(jié)省大量時(shí)間，減輕用戶壓力，避免不必要的錯(cuò)誤。而且通過(guò)計(jì)算，用戶可以獲得輪廓的形狀，角度，和坐標(biāo)數(shù)據(jù)，這些都可以由軟件顯示出來(lái)。用戶完成所有參數(shù)的評(píng)價(jià)后，即可進(jìn)行測(cè)量報(bào)告打印。打印軟件模塊帶有數(shù)據(jù)庫(kù)，所有打印數(shù)據(jù)都可以保存，當(dāng)然用戶可以選擇不同的打印格式，諸如PDF、JPG、EXCEL、TXT等等格式都支持。

瑞士丹青Compact WLI白光干涉微觀形貌及粗糙度儀是用于記錄3D形貌光學(xué)測(cè)量技術(shù)，其分辨率高達(dá)納米級(jí)。測(cè)量點(diǎn)平行采集和處理，大面積的高度信息可以在很短時(shí)間內(nèi)采集。研究和質(zhì)量管理過(guò)程中的典型應(yīng)用有：物體表面的不同粗糙度特性（晶圓結(jié)構(gòu)、鏡面、玻璃、金屬等）、確定高度變化以及曲面的精密測(cè)量（如微透鏡等）。

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